數(shù)顯磁性測(cè)厚儀分類：
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分：
▲點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
▲面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試試驗(yàn)方法不同，又可分為以下幾種：
▲激光測(cè)厚儀
▲超聲波測(cè)厚儀
▲涂層測(cè)厚儀
▲X射線測(cè)厚儀
▲白光干涉測(cè)厚儀
▲電解式測(cè)厚儀

相關(guān)設(shè)備六角梳規(guī)濕膜測(cè)厚儀

 

數(shù)顯磁性測(cè)厚儀應(yīng)用：
▲激光測(cè)厚儀是利用激光的反射試驗(yàn)方法，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

▲X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

▲薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

▲涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

▲超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗(yàn)方法來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此試驗(yàn)方法測(cè)量。

 

數(shù)顯磁性測(cè)厚儀用途：
該測(cè)厚儀測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。專用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。

 

數(shù)顯磁性測(cè)厚儀參數(shù)：
▲測(cè)量范圍： O-200μm。
▲執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
▲測(cè)量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。

 

 

GT810F數(shù)顯磁性測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：
該儀器是磁性便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)**的儀器。Fe質(zhì)探針可檢測(cè)所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。采用了磁感應(yīng)測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；電池電壓指示：低電壓提示；自動(dòng)關(guān)機(jī)。

 

參數(shù)：
▲使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-85%RH。
▲準(zhǔn)確度：±（1.5～3%h）或±2um。
▲公制/英制：可轉(zhuǎn)換。
▲電源：2節(jié)5號(hào)電池。
▲儀器尺寸：02mm×66mm×24mm。
▲重量：99g（含電池）。
▲測(cè)量范圍：0-1250um （標(biāo)準(zhǔn)量程） 。
▲分辨率：0.1/1。
▲zui小曲面:F: 凸 5mm/ 凹 5mm。
▲zui小測(cè)量面積：10mm。
▲zui薄基底：0.3mm。

      隨著客戶的需求，涂層測(cè)厚儀已經(jīng)發(fā)展為多元化，那在如今市場(chǎng)如何選姐一款好的儀器很重要，它關(guān)系到您以后的使用方便。

1.為什么涂層測(cè)厚儀有時(shí)測(cè)量不準(zhǔn)確?

　　這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問(wèn)題。因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來(lái)說(shuō)是多種多樣的。單對(duì)涂層測(cè)厚儀來(lái)說(shuō)，主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。

　　(1)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬(wàn)V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

　　(2)人為因素。這種情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過(guò)程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。

　　(3)在系統(tǒng)矯正時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體?；w***小平面為7mm，***小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

　　(4)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須**附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)矯正時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

　　(5)儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

2.涂層測(cè)厚儀測(cè)量過(guò)程中，為什么有時(shí)候測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差?

        因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來(lái)說(shuō)是多種多樣的。單對(duì)涂層測(cè)厚儀來(lái)說(shuō)，主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。

    （1）強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬(wàn)V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。     （2）人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過(guò)程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。     （3）在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體?；w***小平面為7mm，***小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。     （4）附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須**附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。     （5）儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。       （6）測(cè)量過(guò)程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)**以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去。

3.涂層測(cè)厚儀如何系統(tǒng)校準(zhǔn)?

　　校準(zhǔn)的方法、種類，這是新用戶經(jīng)常會(huì)遇到的問(wèn)題。系統(tǒng)校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說(shuō)明書(shū)上寫(xiě)到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時(shí)***好是多測(cè)量幾次以防止錯(cuò)誤操作;系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

4.如何選擇合適的儀器型號(hào)?

　　選擇什么型號(hào)的儀器***好，要根據(jù)用戶測(cè)量物體的厚度來(lái)定。一般來(lái)說(shuō)測(cè)量450um以下的物體時(shí)***好選擇MC-2000系列，對(duì)0~450um的厚度來(lái)說(shuō)該型號(hào)已經(jīng)達(dá)到2%~3%的**度，而且對(duì)450um以下的厚度值它也能夠很好的確保測(cè)量精度。如果測(cè)量物體厚度在0-5000um，建議選擇mc-2000c型測(cè)厚儀。更厚的話就要選擇mc-2000d型磁性涂層測(cè)厚儀。

5.有時(shí)開(kāi)機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因?

　　開(kāi)機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測(cè)量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測(cè)量，就說(shuō)明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:

　　(1)開(kāi)機(jī)時(shí)探頭離鐵基太近，因?yàn)殍F基磁場(chǎng)的影響而受到了干擾。

　　(2)沒(méi)插好探頭或者探頭線有損傷。

 

涂層測(cè)厚儀磁感應(yīng)的測(cè)量試驗(yàn)方法

涂層測(cè)厚儀采用磁感應(yīng)試驗(yàn)方法時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。時(shí)代涂層測(cè)厚儀利用磁感應(yīng)試驗(yàn)方法的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。
磁性試驗(yàn)方法測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。